顯微鏡能看到結(jié)晶體結(jié)構(gòu)嗎?這要看什么樣的顯微鏡，普通的光學(xué)顯微鏡在此觀察上效果較差，因此普遍使用金相顯微鏡觀察這些結(jié)晶體結(jié)構(gòu)，金相顯微鏡是一種研究晶體缺陷十分有用的儀器，它在金屬材料和半導(dǎo)體材料領(lǐng)域有著廣泛的用途。例如，可以用它觀察半導(dǎo)體晶體中的位錯、體內(nèi)層錯和氧化層錯、晶格點陣無序等結(jié)構(gòu)缺陷。透射電鏡最突出的優(yōu)點是具有高的分辨本領(lǐng)，可以觀察晶體微米數(shù)量級尺寸以下的結(jié)構(gòu)缺陷，甚至還可以分辨幾埃左右面間距的原子平面。此外，還可以用它來定性地鑒定晶體中的微沉淀形態(tài)和成分。

而在使用這類測量顯微鏡結(jié)構(gòu)功能時，需要注意在觀察時是否有色差，會影響數(shù)碼設(shè)備對結(jié)晶體結(jié)構(gòu)的抓拍識別，因為色差現(xiàn)象的產(chǎn)生是由于光軸上的物點發(fā)出的多色光經(jīng)單透鏡成像時，各色光對應(yīng)的不重合的像點而造成的，在產(chǎn)生色差現(xiàn)象后，在觀察成像效果上，觀察區(qū)域周圍會產(chǎn)生模糊化，從而影響大家的觀察效果，因此45°金相顯微鏡就采用除色差技術(shù)，從根本上解決此類問題，大家在使用時也更放心。

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